131_092-001AP-TW
發佈日期 :
2009-04-30
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| 利用單一資料線之測試架構及其測試向量產生方法(全文下載) | |||||||||||||||||||||||||||||
| 2000/07/21 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 118269 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 1999/01/29 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 088101421 | |||||||||||||||||||||||||||||
| G01R-031/28 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 27-21 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 蔡清福 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 本案為一種利用單一資料線之測試架構及其測試向量產生方法，係用以同時測試一系統之多組待測電路。在執行自動測試向量產生過程中，藉由適當的連接將所有待 測電路的輸入線接在一起而形成一虛擬待測電路，並將之當成一電路來處理，故所得到的測試向量可以同時偵測所有待測電路之錯誤。而其測試向量數目亦可大幅減 少。在一個大型電路中，若其所有組成電路的輸入端均聯結成掃描線的型式，則可利用單一資料線同時提供測試向量給所有掃描線，故測試時間可因而大幅縮短。此 方法除了可應用於具多條掃描線之電路外，亦可直接應用於週邊掃描設計架構中以大幅降低測試所需的時間及控制電路的複雜度。 | |||||||||||||||||||||||||||||
| 1.一種利用單一資料線之測試架構及其測試向量產生方 法,用以測試一系統之多組待測電路,以輸出至一多輸入 訊號分析器並產生一輸出資料,其步驟包含: 提供一測試向量;以及 在該系統中可同時以一單一資料線輸入該測試向量至 該多組待測電路。 2.如申請專利範圍第1項所述之利用單一資料線之測試 架構及其測試向量產生方法,其中該資料線係為一資料輸 入線。 3.如申請專利範圍第1項所述之利用單一資料線之測試 架構及其測試向量產生方法,其中該等待測電路具有複數 條輸入線。 4.如申請專利範圍第3項所述之利用單一資料線之測試 架構及其測試向量產生方法,其中該等待測電路之複數條 輸入線數量並無任何限制,即可為相等或不等。 5.如申請專利範圍第1項所述之利用單一資料線之測試 架構及其測試向量產生方法,其中該多組待測電路係組合 成一虛擬待測電路。 6.如申請專利範圍第5項所述之利用單一資料線之測試 架構及其測試向量產生方法,其中該等虛擬待測電路係由 該等待測電路之輸入線以一對一的方式與該等待測電路之 一第一待測電路之輸入線連接而成。 7.如申請專利範圍第6項所述之利用單一資料線之測試 架構及其測試向量產生方法,其中該第一待測電路之複數 條輸入線係為最多者。 8.如申請專利範圍第5項所述之利用單一資料線之測試 架構及其測試向量產生方法,其中該虛擬待測電路之複數 條輸入線可經由複數種連接方式而組成。 9.如申請專利範圍第5項所述之利用單一資料線之測試 架構及其測試向量產生方法,其中該虛擬待測電路主要目 的在於自動測試向量產生之輸入電路以產 生適當 的測試向量。 10.如申請專利範圍第5項所述之利用單一資料線之測 試架構及其測試向量產生方法,其中該虛擬待測電路具有 一第一虛擬待測電路,一第二虛擬待測電路以及一第三虛 擬待測電路。 11.如申請專利範圍第10項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第一虛擬待測電 路係為一可大幅減少整體進行自動測試向量產生 (Automatic Test Pattern Generation)之次數及時間之 虛擬待測電路。 12.如申請專利範圍第10項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第一虛擬待測電 路之輸入線係經由該等待測電路之輸入線並聯而成。 13.如申請專利範圍第10項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第二虛擬待測電 路係為一可大幅減少整體進行自動測試向量產生之次數及 時間之虛擬待測電路。 14.如申請專利範圍第10項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第二虛擬待測電 路係針對複數條不等長度之掃描線所組合使其接近等長。 15.如申請專利範圍第14項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該等掃描線係均連 接至該等待測電路之輸入線。 16.如申請專利範圍第10項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第二虛擬待測電 路係由該第一待測電路與各其餘之待測電路連接,其連接 步驟包含: 將該第一待測電路之輸入線以一對一方式與一第二待 測電路之輸入線連接;以及 將該剩餘之該第一待測電路之輸入線係與一第三待測 電路之輸入線以一對一方式連接,依此類推,直到該 第一待測電路之剩餘輸入線小於其中之最少輸入線之 待測電路。 17.如申請專利範圍第16項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第一待測電路之 複數條輸入線係為最多者。 18.如申請專利範圍第16項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第三待測電路之 輸入線數量小於或等於該第一待測電路之剩餘輸入線。 19.如申請專利範圍第10項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第三虛擬待測電 路係為一可大幅減少整體進行自動測試向量產生之次數及 時間之虛擬待測電路。 20.如申請專利範圍第10項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第三虛擬待測電 路係經由該第一待測電路與其餘之待測電路連接使該組合 得之最少測試向量數目。 21.如申請專利範圍第20項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第一待測電路之 複數條輸入線係為最多者。 22.如申請專利範圍第10項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第三虛擬待測電 路係經由第一待測電路與各其餘之待測電路連接使該組合 得最少之測試向量,其連接步驟包含: 將該第一待測電路之第一輸入線與該第二待測電路之 第一輸入線連接,該第一待測電路之第二輸入線與該 第二待測電路之第二輸入線連接,依此類推; 進行自動測試向量產生步驟並記錄所需之測試向量結 果; 將該第一待測電路之輸入線與該第二待測電路之輸入 線以位移(shift)方式連接,直到該第一待測電路之 最後輸入線與第二待測電路之最後輸入線連接; 根據所得之最少測試向量之位置並保留之;以及 針對其餘之該等待測電路重覆以上步驟,以形成該第 三虛擬待測電路。 23.如申請專利範圍第22項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該第一待測電路之 輸入線係為最多者。 24.如申請專利範圍第1項所述之利用單一資料線之測 試架構及其測試向量產生方法,其中該輸出資料係一加壓 縮之輸出資料。 25.如申請專利範圍第24項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該加壓縮之輸出資 料係經由該多輸入訊號分析器加以壓縮。 26.如申請專利範圍第1項所述之利用單一資料線之測 試架構及其測試向量產生方法,其中該測試向量並透過該 資料輸入線以廣播方式同時傳送至該等掃描線。 27.如申請專利範圍第26項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中該等掃描線均等連 接至該等待測電路。 28.如申請專利範圍第26項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中當該測試向量以廣 播方式同時傳送至該各個掃描線時則該等待測電路均可同 時接收相同之該測試輸入資料。 29.如申請專利範圍第1項所述之利用單一資料線之測 試架構及其測試向量產生方法,其中當該測試向量位之元 數等於所有電路的最大輸入線數,該測試向量則適用於所 有待測試電路。 30.如申請專利範圍第29項所述之利用單一資料線之 測試架構及其測試向量產生方法,其中當該測試向量位元 數等於所有電路的最大輸入線數,該測試向量所產生之錯 誤涵蓋率與個別電路所得到的最大錯誤涵蓋率為相同。 |
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| 專利權異動 |
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| 申請案件狀態 |
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