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513_088-024CP-TW

發佈日期 : 2009-04-30
公告號 291608
專利名稱 一種非晶矽/非晶碳化矽異質接面濾波器(全文下載)
公告/公開日 1996/11/21
證書號 082921
申請日 1996/01/10
申請號 085100221
國際分類 H01L-031/28;H01L-031/36
公報卷期 23-33
發明人 方炎坤
李坤憲
邱義振
申請人 行政院國家科學委員會 台北巿和平東路二段一○六號
代理人名 陳榮福
摘要 本發明係以非晶矽材料為主的非晶矽/非晶碳化矽異質接面濾波器(a-Si/a-SiC Heterojunction Filter),形成一雙波長光檢測器(Twin-Wavelength Photodetector),使其能應用在低成本、大面積製作的光電積體電路( OEIC,Optoelectronic Integrated Circuits)上。
專利範圍 1. 一種異質接面濾波器,其係以非晶矽/非晶碳化矽為
材質,由上而下分別是鋁、正型非晶矽氫(p-a-Si:H)、
本質型非晶矽氫(i-a-Si:H)、負型非晶碳化矽氫(n-a-
SiC:H)、本質型非晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)、正型非晶
碳化矽氫(p-a-SiC:H)、氧化錫銦(ITO)、玻璃。
2. 如申請專利範圍第1項之異質接面濾波器,結構上透明
導電氧化物層,該層位於該玻璃基板上;該透明導電氧化
物層上方為短波長光吸收層,而短波長光吸收層上方為長
波長光吸收層,於長波長光吸收層上為一鋁層。
3. 如申請專利範圍第2項之異質接面濾波器,該透明導電
氧化物層係由氧化錫銦(ITO:Indium-Tin Oxide)材料而
製成。
4. 如申請專利範圍第2項之異質接面濾波器,該短波長光
吸收層係由在透明導電氧化物層上依次沉積正型非晶碳化
矽氫(p-a-SiC:H)、本質型非晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)、
負型非晶碳化矽氫(n-a-SiC:H)等材料。
5. 如申請專利範圍第2項之異質接面濾波器,該長波長光
吸收層係由在短波長光吸收層的負型非晶碳化矽氫(n-a-
SiC:H)上依次沉積本質型非晶矽氫(i-a-Si:H)、正型非
晶矽氫(p-a-Si:H)等材料而形成。
6. 如申請專利範圍第1項之異質接面濾波器,該本質型非
晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)層厚度為200@fc(1.frch)8-1,
600@fc(1.frch)8,而本質型非晶矽氫(i-a-Si:H)層厚度
為1,000@fc(1.frch)8-9,000@fc(1.frch)8
7. 如申請專利範圍第5項之異質接面濾波器,該本質型非
晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)層厚度為350@fc(1.frch)8,而
本質型非晶矽氫(i-a-Si:H)層厚度為4000@fc(1.frch)8

8. 如申請專利範圍第5項之異質接面濾波器,其短波長的
光吸收峰値為�≦450nm之類紫外光(UV)、藍光;而長波
長的光吸收峰値為630nm之紅光。
9. 如申請專利範圍第1項之異質接面濾波器,其反向偏壓
控制於0V-1V狀態下,金屬電極T3端呈現開啓(open)由T1
, T2端可偵測到單一波長450nm之藍光,此時該濾波器為
藍光光檢測器(blue-light photodetector)。
10. 如申請專利範圍第1項之異質接面濾波器,其反向偏
壓控制於2V-6V之間可以去除藍光響應的訊號,金屬電極
T1端呈現開啓狀態由T2, T3端可偵測到630nm單一波長的
紅光,此時該濾波器為單純之紅光光檢測器(red-light
photodetector)。
11. 一種以非晶矽/非晶碳化矽為材質之異質接面濾波器
,其本質型非晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)層具有2.0eV之高
能隙,可有效抑制暗電流,進而克服一般非晶矽材料高漏
電流之缺點。
12. 如申請專利範圍第1項之異質接面濾波器,在不加偏
壓情況下,金屬電極T2端呈現開啓(open),由T1, T3端可
偵測到短波長如450nm藍光長波長如630nm紅光兩種不同波
長的光,因此本異質接面濾波器為雙波長光檢測器(twin-
wavelength photodetector)。
圖示簡單說明:
圖一:非晶矽/非晶碳化矽異質接面濾波器構造圖。
1.....鋁
2.....正型非晶矽氫(p-a-Si:H)
3.....本質型非晶矽氫(i-a-Si:H)
4.....負型非晶碳化矽氫(n-a-SiC:H)
5.....本質型非晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)
6.....正型非晶碳化矽氫(p-a-SiC:H)
7.....氧化錫銦(ITO)
8.....玻璃
9.....金屬電極T1
10....金屬電極T2
11....金屬電極T3
12....電阻(R)
13....電壓
圖二:不同本質型非晶碳化矽氫層厚度下異質接面濾波器
之光頻譜響應圖。
a.....1200@fc(1.frch)8
b.....600@fc(1.frch)8
c.....350@fc(1.frch)8
d.....200@fc(1.frch)8
圖三:不同本質型非晶矽氫層厚度下異質接面濾波器之光
頻譜響應圖。
a.....9000@fc(1.frch)8
b.....4000@fc(1.frch)8
c.....1000@fc(1.frch)8
圖四:不同厚度與異質接面濾波器之吸收峰値關係圖。
(a)本質型非晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)層厚度關係圖
(b)本質型非晶矽氫(i-a-SiC:H)層厚度關係圖
圖五:非晶矽/非晶碳化矽異質接面濾波器之最佳化光頻
譜響應圖。
1.....鋁
2.....正型非晶矽氫(p-a-Si:H)
3.....本質型非晶矽氫(i-a-Si:H)
4.....負型非晶碳化矽氫(n-a-SiC:H)
5.....本質型非晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)
6.....正型非晶碳化矽氫(p-a-SiC:H)
7.....氧化錫銦(ITO)
8.....玻璃
9.....金屬電極T1
10....金屬電極T2
11....金屬電極T3
12....電阻(R)
13....電壓
圖六:在不同反向偏壓下異質接面濾波器之光頻譜響應圖

1.....鋁
2.....正型非晶矽氫(p-a-Si:H)
3.....本質型非晶矽氫(i-a-Si:H)
4.....負型非晶碳化矽氫(n-a-SiC:H)
5.....本質型非晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)
6.....正型非晶碳化矽氫(p-a-SiC:H)
7.....氧化錫銦(ITO)
8.....玻璃
9.....金屬電極T1
10....金屬電極T2
11....金屬電極T3
12....電阻(R)
13....電壓
a.....-6V
b.....-4V
c.....-2V
d.....-0V
圖七:電流/電壓曲線圖。
(a)短波長光吸收結構
(b)長波長光吸收結構
圖八:在不同反向偏壓下異質接面濾波器之光頻譜響應圖

1.....鋁
2.....正型非晶矽氫(p-a-Si:H)
3.....本質型非晶矽氫(i-a-Si:H)
4.....負型非晶碳化矽氫(n-a-SiC:H)
5.....本質型非晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)
6.....正型非晶碳化矽氫(p-a-SiC:H)
7.....氧化錫銦(ITO)
8.....玻璃
9.....金屬電極T1
10....金屬電極T2
11....金屬電極T3
12....電阻(R)
13....電壓
a.....-1.0V
b.....-0.5V
c.....-0V
圖九:在不同反向偏壓下異質接面濾波器之光頻譜響應圖

1.....鋁
2.....正型非晶矽氫(p-a-Si:H)
3.....本質型非晶矽氫(i-a-Si:H)
4.....負型非晶碳化矽氫(n-a-SiC:H)
5.....本質型非晶碳化矽氫(i-a-SiC:H)
6.....正型非晶碳化矽氫(p-a-SiC:H)
7.....氧化錫銦(ITO)
8.....玻璃
9.....金屬電極T1
10....金屬電極T2
11....金屬電極T3
12....電阻(R)
13....電壓
a.....-6V
b.....-4V
雜項資料  
專利權異動
專利申
請案號
授權
註記
質權
註記
讓與
註記
繼承
註記
信託
註記
異議
註記
舉發
註記
消滅
日期
撤銷
日期
專利權
始日
專利權
止日
年費有
效日期
年費有
效年次
085100221     19961121 20160109 20091120 013
申請案件狀態
專利申
請案號
狀態異
動日期
案件申
請日期
實體審查
申請日
相關申
請案號
公開號 公告號 證書號 證書型別 狀態異
動資料
085100221 19961121 19960110       291608 082921 發明 初審核准
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