跳到主要內容區
:::

492_088-037CP-JP

發佈日期 : 2009-04-30
公告號 123918
專利名稱 超微粒氮化鋁粉末之製造方法(全文下載)
公告/公開日 1989/12/01
證書號 036148
申請日 1989/04/27
申請號 078103182
國際分類 B22F-009/04
公報卷期 16-34
發明人 王惠榮
吳南均
申請人 行政院國家科學委員會 台北巿和平東路二段一○六號十八樓
代理人名 周良謀;洪澄文
專利範圍 1﹒一種製造氮化鋁粉末之方法;包括; a﹒
將���相氧化鋁細粉末,礦黑細紛末以及高
純度氦化鋁粉末在液體分散媒質內充分混
合,其中氧化鋁與碳黑之重量比率為1﹒
6:1至2﹒5:1,而高純度氮化鋁之
重量比率為氧化鋁與碳黑之總重的1─5
wt%; b﹒將上述混合均勻之混合物壓
成成形品; c﹒將上述成型品在氮氣氣氛
內於1550℃-1650℃加熱以還原
氮化; d﹒將經加熱之成形品取出並於6
00─700℃加熱5─7小時以除去碳

2﹒如申請專利範圍第1項所述之方法,其中
氮化鋁細粉末為平均粒徑約0﹒4um者

3﹒如申請專利範圍第1項所述之方法,其中
碳黑之平均粒徑約O﹒8um者。
4﹒如申請專利範圍第1項所述之方法,其中
所用氧化鋁與碳黑比率為2:1者。
5﹒如申請專利範圍第1項所述之方法,其中
在步驟a﹒及b﹒之間另加入造粒之步驟
者。
6﹒如申請專利範圍第1項所述之方法,其中
之混合均勻的混合及取約1g1000─
4000kg/cm2之壓力,壓成直徑
約15mm,厚度約1─5mm之薄片者

7﹒如申請專利範圍第6項所述之方法,其中
成型之壓力為約2830kg/cm2者

8﹒如申請專利範圍第1項所述之方法,其中
之步驟c﹒之加熱乃在1600℃進行者

9﹒如申請專利範圍第1項所述之方法,其中
步驟c﹒中進入之氮氣流量為100─3
00cc/分者。
10﹒如申請專利範圍第1項所述之方法,其中
步驟C﹒之還原氮化,乃是將成形品置於
Al203之多孔板上進行者。
11﹒如申請專利範圍第1項所述之方法,其中
步驟c﹒之還原氮化之加熱之持溫時間為
3─5小時者。
圖示簡單說明
第1圖是不同Al2O3/C重量比率所
合成粉末之SEM觀察圖;
第2圖是不同含碳量在1600℃恆溫7
小時後之X光繞射圖;
第3圖是含碳量與氮化鋁形成率之關係圖
;
第4圖是添加劑(AlN)對粉末影響之
SEM觀察圖;
第5圖是添加氮化鋁對於反應影響之X光
繞射圖;
第6圖是添加5we%AlN所合成之粉
末之壓力壓成成形品在爐中以反應溫度160
0℃恆溫7小時N2氣流量200cc/分與
日本德山曹達粉末(A)之X光繞射圖比較;
第7圖是表示造粒後之粉末經乾壓成形之
壓力效應圖;
第8圖是不同重量之對照組(2/1)粉
末經壓形,反應後之X光繞射圖:
第9圖是表示試片重量與氮化鋁形成率之
關係圖;
第10圖是薄片試樣放置在具有連通孔隙
氧化鋁板上還原氮化鋁之示意圖;
第11圖是理論組(2﹒83/1)成形
試片經不同溫度反應後之X之光繞射圖:
第12圖是對照組(2/1)成形試片經
不同溫度反應後之X光繞射圖;
第13圖是對照組(2/1)試片經不同
溫度反應後之SEM觀察圖;
第14圖是不同反應溫度之氮化鋁形成率
;
第15圖是碳黑粉末石墨化(結晶化)光
繞射圖;
第16圖是理論組(2﹒83/1)成形
粉末1600℃經不同時間反應後之X光繞射
圖;
第17圖是對照組(28/1)成形粉末
在1600℃經不同時間反應後之X光繞射圖
;
第18圖是對照組(2/1)成形粉末在
1600℃不同恆溫時間之SEM觀察圖;
第19圖是在不同氮氣流量下所合成之A
IN粉末之SEM觀察圖;
第20圖是氮氣流量與氮化鋁形成率之關
係圖;
圖21圖是在不同氮氣流量下於1600
℃反應後所合成之粉末之X光繞射圖;
第22圖是本發明之氮化鋁還原氦化法之
可能機構示意圖。
雜項資料  
專利權異動
專利申
請案號
授權
註記
質權
註記
讓與
註記
繼承
註記
信託
註記
異議
註記
舉發
註記
消滅
日期
撤銷
日期
專利權
始日
專利權
止日
年費有
效日期
年費有
效年次
078103182     19891201 20090426 20090426 20
申請案件狀態
專利申
請案號
狀態異
動日期
案件申
請日期
實體審查
申請日
相關申
請案號
公開號 公告號 證書號 證書型別 狀態異
動資料
078103182 19891201 19890427       123918 036148 發明 初審核准
瀏覽數:
登入成功